TxPER测试要让DUT发射一个预先确定的数据包流 ， 而使用黄金射频中的接收机来收集数据 ， 并将其与参考数据包进行比较 ， 以检验包错误率(PER)是否上升 。这一方法的问题在于：它是厂商专有的 ， 很难在不同的黄金射频上复现 。黄金射频接收机性能的变化也会带来不同的PER结果 ， 即使发射机性能没有什么变化 ， 这会导致生产线上的“虚假不合格”(即一个好的器件被认定为不合格) ， 并会造成产品成品率的波动 。这两种情况是每家制造商都希望避免的 。
测试设备出现的一个令人激动的进展将会改变这一切 ， 获得一种成本经济性好、灵活且带宽满足EVM测量需要的集成化测试装置 ， 将有可能改变WLAN装置测试的方式 。现在 ， 市场上已经出现集成化的WLAN测试仪解决方案 ， 这些测试装置正好能提供现在黄金射频系统所缺乏的精度、重复性、灵活性和独立性 。
在这类系统中 ， 黄金射频、功率计、频谱分析仪和相关的电缆及RF开关的功能都集成到一台仪器中 ， 从而大大降低了系统的复杂性和成本 。整套测试装置包括可编程矢量信号发生器和宽带接收机 ， 其精度与功率计相近 。该系统只需要一台PC就可以容纳DUT控制软件及WLAN测量软件 。
校准步骤主要是对DUT中的功率放大器进行校准 ， 做法是调节输出功率到一个规定的绝对电平或者直到出现可容许的最大失真为止 。在基于黄金射频的系统中 ， 测量这一失真的具体做法往往是：增加DUT的功率级 ， 直到发射信号的某些特性 ， 如频谱旁瓣 ， 达到预定的极限为止 。
由于这种测试方法与对直接测量EVM相比一般精度和猜测性较低 ， 故功率级往往必须从可能的最大水平上降低一点 ， 因此测出的系统性能要比可能的量值低一些 。采用集成测试装置后 ， 功率、EVM以及其他的IQ偏移和信号的频率误差测量等可以在一次数据捕捉中全部获取 ， 从而完成对发射机性能的快速和精确测量 。这一精度和重复性性能的提高意味着DUT放大器的整个范围都可以得到运用 ， 传输的品质也得到优化 。高精度和重复性也降低了测量的不确定性 ， 这意味着测量极限处的防护带可以降低 ， 而可以提高成品率 。
属于可修调测试平台的集成化测试装置 ， 将帮助WLAN模块的制造商快速地提高生产量 ， 提高制造成品率的同时降低测试的总成本 。那些独立于任何一家制造商的芯片组且精度、带宽和频率范围等基本要求均得到保证的测试系统 ， 对于WLAN制造商来说是理想的选择 ， 其架构也能很好的提供WLAN器件测试的新方法 ， 而且可以更轻易的适应未来技术 。由于测试的灵活性在许多制造环境中起着要害的作用 ， 所以这类技术将是长久应用的解决方案 。
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